パワー半導体テスタ P3000

パワー半導体向けテスタ「P3000」は、3000V/400AのDCテストを行うと同時にオプションでCCTECH社製の外付けBOXを接続することで、アバランシェ試験、熱抵抗試験、RgCg試験、AC特性試験を一つのテストサイクルの中で行うことを可能にする。パワー半導体向けのテスタは日本で開発製造されることが多く、人件費や製造コストからテスターの価格が高くなるが、同製品は中国での開発製造により安価かつハイパフォーマンスを実現した。

パワー半導体のテスタは数十年使用されているケースが多いため、老朽化が目立ち、保守部材も生産中止であるケースが多い。同製品は近年開発されたため、最新の部材が使用されている。そのため保守部材を素早く調達でき、検査不能による半導体生産ラインのダウンタイムを縮小できる。また、新規導入時に低価格のテスタを導入することで、製造ラインの低コスト化を実現できる。

一例として、低価格の検査装置を導入することで、製造設備のコストを下げて複数の生産ラインの稼働を可能にし、120〜130％の生産キャパシティの向上を実現した。中国で数社の採用実績があり、日本の企業でも現在数社取り扱いを検討中である。