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基板検査 2016.05.08

多チャンネル高速CR測定ユニット「R-730」を開発

基板の窓口編集部

多チャンネル高速CR測定ユニット「R-730」を開発

日本電産リード(株)は、多チャンネル高速CR測定ユニット「R-730」を開発した。

同製品は、プリント基板や半導体パッケージ基板以外の電子デバイス測定(C,R、インピーダンス、微小距離測定)に使用可能で、かつ多チャンネル(最大512ch)、高速微小容量測定(測定速度25ms以下、最少分解能0.1femto-Farad)といった特徴をもつ。

「R-730」の検査対象アプリケーションとしては、多点容量測定が必要な圧力/位置センサの検査、摺動機構部の特性検査、配線パターンのインピーダンス検査、回転軸のキズ検査等を想定している。

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基板の窓口編集部

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