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ニュース2026.09.09

セミナー「先端半導体製造に求められる検査・計測の最新動向」開催

セミナー「先端半導体製造に求められる検査・計測の最新動向」開催

10月2日(金)13:00〜17:00に、グローバルネット㈱がセミナー「先端半導体製造に求められる検査・計測の最新動向」を開催。

講演3件。先端ロジック(GAAFET/CFET)のプロセスと計測要求、3次元計測・膜厚測定・マクロ欠陥検査、チップレット時代の光学式検査・計測。千代田区六番町・プラザエフおよびオンライン(Zoom)にて。

詳細は https://global-net.co.jp/archives/13701 に。

[掲載の画像はすべてリンク先からの引用です]

実装ニュースセンター・雀部俊樹

1970年代からおよそ40年間プリント基板の開発・製造技術・品質管理・業者認定・知財法務などに関わり、2012年に雀部技術事務所を創立。2001年に実装ニュースセンター(https://jisso.jp)を創設し、実装技術関連のニュースをメーリングリストを介して配信開始。2019年に電子メールからSNSに移行して、ニュース配信を拡大する。

https://x.com/JissoNews
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