ニュース2026.09.09
10月2日(金)13:00〜17:00に、グローバルネット㈱がセミナー「先端半導体製造に求められる検査・計測の最新動向」を開催。
講演3件。先端ロジック(GAAFET/CFET)のプロセスと計測要求、3次元計測・膜厚測定・マクロ欠陥検査、チップレット時代の光学式検査・計測。千代田区六番町・プラザエフおよびオンライン(Zoom)にて。
詳細は https://global-net.co.jp/archives/13701 に。
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