特集記事

株式会社島津製作所

表面検査の見える化を『誰でも』『すぐに』『簡単に』 「超音波光探傷装置 MIV-X」

同社の超音波光探傷装置により、対象物の表面に存在する目視検査では観察できない欠陥を短時間で可視化することが可能になり、品質管理の効率化に貢献できる。

超音波振動とレーザーイメージングの組み合わせにより、溶射被膜などのコーティングや異種材の接合面の欠陥を非破壊で簡単に可視化できる。従来の超音波探傷検査では難しい、大気中の表面観察を実現する。

エンジン摺動部のサーメット溶射、半導体製造装置のセラミック溶射の品質管理への採用実績がある。

詳細:https://www.an.shimadzu.co.jp/products/materials-testing/ultrasonic-optical-flaw-detector/miv-x/index.html

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