蛍光X線膜厚計とは
X-ray fluorescent thickness tester(XRF)
金属にX線を照射すると、固有のX線である 蛍光X線 が発生する。この性質を利用した計測器であり、試料にX線を照射し、発生した蛍光X線の量をもとに、めっきなどの膜厚を 非破壊 で測定する装置である。
X-ray fluorescent thickness tester(XRF)
金属にX線を照射すると、固有のX線である 蛍光X線 が発生する。この性質を利用した計測器であり、試料にX線を照射し、発生した蛍光X線の量をもとに、めっきなどの膜厚を 非破壊 で測定する装置である。