プリント基板（PCB）用語集

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BISTとは

built-in-self test

テスト容易化設計（DFT）の一環で、LSI チップ内部にテスト機能の一部を組み込み、テストを簡略化する技術である。LSI 内部に「テストパターンを生成する回路」と「テスト結果を期待値と比較する回路」を集積することで実現される。

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