バウンダリスキャン法とは
boundary scan method
バウンダリスキャン法は、1990年にIEEE Std 1149.1として標準化されたテスト容易化設計（DFT: design for testability）手法である。この手法は、関係グループの名称に由来し「JTAGテスト」とも称される。
本規格に準拠して実装基板を設計することにより、BGAやCSPなどの高密度部品を多数搭載する基板でも、物理的なプロービングを行うことなく、オープンやショートといった故障検査を低コストかつ短期間で実施可能である。加えて、故障が発生した場合には、その位置を特定することもできる。
この手法は、ソフトウェアベースのプロービング技術として位置付けられる。
