DUTとは
DUT device under test
半導体デバイスを評価するために用いられる被測定ボードであり、テスタに接続して実際の規格(電気的特性など)を模擬・再現する目的で設計される。測定精度を確保するため、DUTの設計は使用するテストシステムの仕様に適合する必要がある。
DUT device under test
半導体デバイスを評価するために用いられる被測定ボードであり、テスタに接続して実際の規格(電気的特性など)を模擬・再現する目的で設計される。測定精度を確保するため、DUTの設計は使用するテストシステムの仕様に適合する必要がある。